CSO Osiris T

CSO Osiris-T kombinerer avansert wavefront-aberrometri med korneal topografi i ett instrument. Dette gir en omfattende analyse av både øyets totale optiske aberrasjoner og hornhinnens form og optiske egenskaper.

Ved å kombinere pyramidal wavefront-sensorteknologi og Placido-basert kornealtopografi kan Osiris-T bidra til å skille mellom aberrasjoner som stammer fra hornhinnen og de interne optiske strukturene i øyet.

Viktige egenskaper

• Wavefront-aberrometri og korneal topografi

• Pyramidal wavefront-sensor

• Placido-basert topografi

• Analyse av lavere og høyere ordens aberrasjoner

• Zernike- og optisk kvalitetsanalyse

• Sammenligning av korneale og totale aberrasjoner

• Egnet for refraktiv kirurgi og avansert diagnostikk